在實踐中納米粒度儀用于確定粒徑的各種測試方法

在實踐中，納米粒度儀用于確定粒徑的各種測試方法，除了顯微鏡和全息術之外，不觀察單個粒子，而是確定粒子系統(tǒng)的粒度相關性質(zhì)，然后計算第一章粉末。材料的粒度和測量的基礎粒度值。即使在微觀和全息方法中，單個理論定義也不用于觀察單個粒子，并且直接使用一些人工定義的等效直徑。為了表征顆粒的尺寸，通常使用等效的顆粒尺寸，也稱為等效顆粒尺寸。當顆粒具有與均勻球體相同的特性時，顆粒的等效顆粒尺寸是指假定相同的球體直徑。對于不規(guī)則形狀的顆粒，其顆粒尺寸是測量方向的函數(shù)，并且是物理測量方法的函數(shù)，因此在不同條件下以不同方式測量相同顆粒并且測量的顆粒尺寸值不同。由于大多數(shù)顆粒的形狀是不規(guī)則的，因此可能非常復雜。  

納米粒度儀在實際應用中，難以精確測量它們的粒徑，并且“粒度值”的“一維參數(shù)”用于描述不規(guī)則粒子的大小。它本身非常粗糙和不準確，因此一些學者提出“在粒度測量中，如果粒子形狀是非球形的，那么粒子沒有真正的粒徑，也就是說，被測物體沒有真實的價值。粒度分布在工業(yè)生產(chǎn)中，遇到大量處于整體狀態(tài)的粒子系統(tǒng)。粒度測量工作是對大量粒子的統(tǒng)計研究，即測量粒子系統(tǒng)的粒度分布。粒度分布是指粒子系統(tǒng)中系統(tǒng)中不同尺寸的粒子的比例。根據(jù)測量儀器和研究，粒度分布具有不同的表達，例如重量的比率或頻率，粒子的體積或數(shù)量相對于粒子的粒徑等。通常有三種表示：數(shù)量形成。1.2.3顆粒尺寸的簡單表征-特征顆粒尺寸顆粒尺寸分布可以完整和詳細的方式描述粉末樣品的顆粒尺寸。